北京恒奧德儀器儀表有限公司
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HAD-FD-OE-3固體介質(zhì)折射率測定儀型號;HAD-FD-OE-3的詳細資料:
固體介質(zhì)折射率測定儀型號;HAD-FD-OE-3
折射率是反映介質(zhì)光學性質(zhì)的重要參數(shù)之。本儀器采用的實驗方法,在光學測量中具有典型性和基本要求的點。用測布儒斯角的方法測量透明介質(zhì)的折射率及利用測量激光照射半導體薄片的反射系數(shù)方法,測量分半導體如硅、砷化鎵等介質(zhì)的折射率。本儀器具有體積小,重量輕,調(diào)節(jié)方便,裝置牢靠,實驗數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠等優(yōu)點。本儀器可用于基礎(chǔ)物理實驗,性與研究性物理實驗及物理奧林匹克競賽培訓實驗用。
固體介質(zhì)折射率測定儀型號;HAD-FD-OE-3
本儀器具有以下優(yōu)點:
1.采用強度優(yōu)質(zhì)鋁合金材料制成,表面經(jīng)陽氧化處理 ,儀器重量輕、體積小、耐用、不會生銹,使用壽命長。
2.帶有刻度的轉(zhuǎn)盤經(jīng)心和,轉(zhuǎn)動輕巧靈活,讀數(shù)準確。
3.采用數(shù)字式光率計測量偏振光光強,測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。
4.有黑色遮光罩擋光,可在明光及通風條件下做光學實驗,在同實驗室各組實驗互不干擾。
應(yīng)用本儀器可以成以下實驗:
1. 光的偏振現(xiàn)象的觀察和分析,加深對光偏振規(guī)律的認識。掌握獲得線偏振光的知識及確定偏振片偏振方向的方法。
2. 用布儒斯定律,測量對可見光透明固體材料的折射率。
3.通過測量偏振光二個分量入射到介質(zhì)上反射光的反射系數(shù),測量半導體硅等材料的折射率。
儀器主要參數(shù):
1. 半導體激光器 波長650nm,率 1.5-2.0mW,作電壓3V。
2. 轉(zhuǎn)盤 直徑為2.0cm,可調(diào)范圍0-360°,分度值1°。
3.水平光學轉(zhuǎn)臺 可 0-360゜轉(zhuǎn)動,分度值 1°。
4.數(shù)字式光率計 量程有200uW和2mW二檔,三位半液晶顯示
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